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当前位置:主页 > 新闻资讯 > 公司新闻 > 对沈阳松下电池内部的研究报告 时间:2019-06-19
对沈阳松下电池内部的研究报告
早期容量损失-l(PCL-l):界面影响PCL-1是在松下蓄电池性能迅速下降的前10-50个循环中出现的容量突然损失。将此现象称作无锑效应,因为它首先出现在循环用的铅钙合金电池中。现在认为,PCL-1是由板栅/活性物质之间形成的不导电层引起的。这些不导电层和低导电层在板栅/活性物质界面引起高电阻。高电阻层在充放电中产生热量,引起与板栅相邻的正极活性物质膨胀,并使之在板栅附近局部放电,而限制电极容量:添加到铅钙和纯铅中的锡(Sn)大大提高了正极板栅的耐蚀性。板栅腐蚀及腐蚀物增长使板栅与活性物质之间的电连接状况恶化,板栅和活性物质之间导电性损失造成了蓄电池放电容量降低。锡也明显地增加了合金的机械性能,这使扳栅能拉伸长及防止板栅与活性物质接触不良。
  随着锡含量增加,腐蚀率降低直至锡含量达1.5%时,同样,腐蚀率随着钙含量的减小而降低。与降低腐蚀率同样重要的是。
  含有一定量的锡的蓄电池板栅也在板栅活性物质之间表现出更好的导电性,尤其是在深放电后更明显。
  问题PCL-1很有效。
对沈阳松下电池内部的研究报告
  锡对钙锡合金(0.08%)极化电阻的影响在板栅中锡凝析于次级晶界上,并在板栅/活性物质界面被氧化成SrA.掺杂了PIA的导电Sn02在放电过程中不反应,并为充电提供贯穿PbS04的导电通路。
  添加大量的锡使板栅有很好的耐蚀性,并使板栅和活性物质在涂儋、熟化中有良好的粘性连接,但是化成非常困难。然而,这种连接对消除松下蓄电池中的一个主要2.2早期容置损失-2(1>(-2):活性物质的彩响PCL-2称作电导限制容量损失。它归因于正极活性物质中1颗粒之间的连接变弱,是由循环中正极活性物质的膨胀引起的。放电越深、放电速度越快、膨胀率越大、容量损失可能越大。
  膨胀引起活性物质电阻增大,这是因为活性物质膨胀导致单个1铟粒之间的导电性消失。膨胀导致容量减少、软化和Pb02F能放电。如果用高倍率大电流过充电,此现象更加严重。
  财胀力极板的受力现已证明,通过压紧正极活性物质可以降低PCL-2.隔板、板栅和电池外壳是抑制活性物质膨胀的主要手段。增加铅青密度和控制充电也有助于延缓PCL-2的发生。
  抑制膨胀的主要方法是使用改进的隔板。实验证明,大于40kPa的压力对使用传统AGM隔板的松下蓄电池有效。然而,在循环中这些隔板能否一直将压力保持在正极活性物质上仍是一个问题。
  在干燥条件下隔板施加的抑制力会在隔板潮湿时明显降低。当隔板受到活性物质膨胀的压力时,抑制力将进一步降低。在ALABC工程中新型隔板和活性物质抑制体系的发展将为新型蓄电池设计提供许多选择。
  新型隔板已经发展到不会因为电解液的润湿而明显收缩或膨胀。这些抑制系统是十分耐压的,并限制正极活性物质的膨胀。例如填充Si02的聚合物隔板,玻璃聚合物复合隔板,和粒状Si02通过限制正极活性物质膨胀将大大延长蓄电池寿命(图高耐压的隔板将压力传递给松下蓄电池外壳和负极活性物质。如果新型隔板处在很高的抑制压力下使用,负极板栅可能被压缩而损坏。
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